2D VISION PROBE
工藝過程成像探頭系統


技術指標
測量范圍:數微米到數毫米(與鏡頭放大倍數,相機等相關)
測量方式:在線測量晶體形態,平均尺寸,顆粒大小分布
測量濃度:可高達50%固體顆粒濃度(與顆粒形狀相關)
工作溫度:-10℃ - 120℃
性能特征
特殊設計的探頭(相機/鏡頭/光源)可廣泛地適用于許多困難物系(尤其是非透明顆粒物系及高固體濃度)。 探頭具有耐腐蝕性,能夠對ph值1~12范圍內的樣品進行測量。
由于特殊的光源設計,本系統可有效地防止顆粒沉積/粘結于探頭上。
根據不同物系及客戶要求,本系統可設計不同方案(包括氣體清理系統)。
強大的圖像處理功能可實現顆粒多尺度分割, 計算顆粒形狀參數 (主元素分析和傅立葉變換),聚類分析和定量產品/過程控制。
應用實照
深圳黎華分析儀器有限公司
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